Физика > Вторично-ионная масс-спектрометрия
е положение в области анализа состава объема и поверхности твердого тела, т. к. в ряде других отношений с ним не могут сравниться никакие другие методы. Высокочувствительность к большинству элементов, возможность регистрации атомов с малыми Z и изотопического анализа, высокое разрешение по глубине при измерении профилей концентрации и возможность изучения распределения элементов по поверхности делают ВИМС методом трехмерного анализа изотопного и следового состава твердого тела (фиг. 14).
Фиг.14. Влияние анализируемой площади на предельную разрешающую способность[2].
Многие задачи физики
Название: Вторично-ионная масс-спектрометрия Дата публикации: 2007-02-13 |