Страница: 10/10
Схема устройства измерения времени преобразования tпр тактируемых АЦП (рис. 11), в которых начало преобразования совпадает с моментом поступления импульса запуска (синхронизирующего импульса), отличается от предыдущих схем тем, что частота fг тактовых импульсов генератора Г возрастает до момента превышения результатом преобразования контролируемого АЦП допустимого значения, после чего с помощью устройства измерения частоты Ч производят измерение частоты тактовых импульсов, определяющих время преобразования: tnp=n/fr, где п—число тактов уравновешивания за один цикл измерения, зависящее от разрядности контролируемого АЦП.
В данной главе были рассмотрены основные структуры ИМС АЦП, параметры и методы их контроля. Проведенный анализ методов контроля позволяет сделать вывод, что наиболее универсальным является метод, использующий образцовый ЦАП, на базе которого возможно построение автоматизированного КИО для проверки как ЦАП, так и АЦП. Среди контролируемых параметров наибольшую сложность с точки зрения обеспечения их контроля представляют нелинейность характеристики преобразователей и их время преобразования. В первом случае требуется образцовый преобразователь с высокой разрешающей способностью и линейностью, во втором — широкополосный усилитель и быстродействующий стробируемый дискриминатор
 |
уровней с высокой чувствительностью по амплитуде. Все это свидетельствует о том, что создание автоматизированного КИО для ИМС АЦП является очень сложной научно-технической проблемой. Непрерывное совершенствование параметров выпускаемых ИМС АЦП, повышение их разрешающей способности, быстродействия требуют дальнейшего совершенствования существующих и разработки новых методов и средств контроля. Появление преобразователей с числом разрядов 16 и более вызывает необходимость создания КИО, которое по точностным характеристикам приближается к эталонным средствам. Обеспечение достоверного контроля подобных преобразователей становится возможным лишь в случае создания КИО, в котором для получения результата измерения широко используется вычислительная техника, позволяющая проводить статистическую обработку результатов отсчета, вводить дополнительные коррекции и т. д. При этом желаемый результат может быть достигнут, если КИО работает на специально оборудованном метрологическом участке, исключающем воздействие на него различных внешних дестабилизирующих факторов.
Список использованных источников
1. Измерения и контроль в микроэлектронике: Учебное пособие по специальностям электронной техники/Дубовой Н.Д., Осокин В.И., Очков А.С. и др.; Под ред. А.А.Сазонова.- М.:Высш. Шк.,1984.-367с., ил.
[ПВ1]
Реферат опубликован: 23/12/2008