Страница: 2/8
Aлгopитмoм oбpaбoтки пpeдуcмoтpeнo: фикcaция A(1) в peгиcтpe; cpaвнeниe A(i) c A(1); зaпиcь инверсного кода A(i+1) в ячeйку ЗУ пo aдpecу A(i+1),если A(i)>A(1); пocлeдoвaтeльный вывoд coдepжимoгo ячeeк ЗУ нa выходы B пocлe пpиeмa A-кoдoв. (i=2,3 .N-1)
11.Данные, хранимые в ячейках ЗУ, представляют положительные и отрицательные числа в дополнительном коде с одним знаковым разрядом. Схема уменьшает содержимое ячеек 1,2, .8, начиная с ячейки 1, на величину разности /S[i]-S[i-1]/, где S[i],S[i-1]- количество "1" соответственно в текущем и предшествующем адресном коде при условии,если его можно представить в 4-разрядной сетке (без переполнения), (i-1),i-последовательные номера ячеек
12.Схема блока обработки данных с микропрограммным управлением.
Так как общая структурная схема, состоящая из несколких отдельных, не приводится, то необходимо подсчитать число МИС,СИС и БИС, входящих в Ваше задание. После этого, используя табл.1. олределить общее число элементов заданной схемы. Будем считать, что к МИС относятся интегральные схемы (ИС) с числом выводов равным 16, к СИС с числом выходов - 24, а все остальные относятся к БИС.
Таблица 1.
|
Тип ИС |
Число резисторов |
Число конденсаторов электролит |
Число конденсаторов керамичес. |
Число светодиодов |
Число разъёмов |
|
СИС |
5 |
3 |
15 |
1 |
1 |
|
МИС |
15 |
5 |
25 |
2 |
2 |
|
БИС |
25 |
10 |
40 |
3 |
4 |
Число паяных соединений определяется как общее число выводов ИС, выводов резисторов, конденсаторов, светодиодов и число контактов разъёмов умноженное на два.
Расчёт надежности ВУ
При расчёте надежности принимаются следующие допущения:
-отказы элементов являются независимыми и случайными событиями;
-учитываются только элементы, входящие в задание;
-вероятность безотказной работы подчиняется экспоненциальному закону распределения;
-условия эксплуатации элементов учитываются приблизительно с помощью коэффициентов;
-учитываются катастрофические отказы.
В соответствии с принятыми допущениями в расчётную схему должны входить следующие элементы:
-элемент К1, т.е. количество СИС и БИС;
-элемент К2, т.е. количество ИС малой степени интеграции (МИС);
-элемент К3, т.е. количество резисторов;
-элемент К4, т.е. количество конденсаторов:
-элемент К5, т.е. количество светодиодов;
-элемент К6 т.е. количество поеных соединений;
-элемент К7, т.е. количество разъёмов.
В соответствии с расчётной схемой вероятность безотказной работы системы определяется как:
где N - количество таких элементов, используемых в задании
Pi -вероятность безотказной работы i-го элемента.
Учитывая экспоненциальный закон отказов, имеем:
где ni - количество элементов одного типа, lj-интенсивность отказов элементов j-го типа. Причём lj=kl x lj0, где kl - коэффициент, учитывающий условия эксплуатации, а lj0 - интенсивность отказов в лабораторных условиях.
Реферат опубликован: 15/10/2008